Аналитический автоэмиссионный растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур, Алматы
Цена: Цену уточняйте
за 1 ед.
- Минимальный заказ - 1 ед.;
- Дата добавления 02.03.2017;
- Уникальный код - 16526725;
- Количество просмотров - 166;
Описание товара
В серии ULTRA реализованы самые последние достижения технологии GEMINI - уникальная комбинация детекторов для получения изображений рельефа поверхности с одновременным отображением композиционного контраста в нанометрическом масштабе.
При этом GEMINI гарантирует выдающееся качество изображений - потрясающий контраст и несравнимую чистоту.
В микроскопах ULTRA используются три интегрированные системы детектирования сигнала:
Встроенный в линзовую систему детектор вторичных электронов (In-lens SE) для изучения топографии поверхности на предельных разрешениях;
Встроенный в колонну детектор обратно рассеянных электронов с селекцией по энергии выхода (EsB), дающий картины поверхности с отображением химического контраста на сверхразрешениях;
Встроенный в колонну детектор обратно рассеянных электронов с селекцией по углу выхода (AsB), используемый для изучения композиционного контраста и получения картин ориентации кристаллов.
С помощью микроскопов серии ULTRA получают уникальные по разрешению и выдающиеся по качеству изображения: топологии поверхности, композиционного контраста поверхности, карты разориентации кристаллов и карты ориентации магнитных доменов.
Рабочие камеры микроскопов серии ULTRA оборудованы оптимальным количеством портов для подключения дополнительного аналитического оборудования и высокоточным столиком с полной моторизацией по 5 осям, что в комбинации с электронно-оптической колонной GEMINI открывает перед исследователями широчайшие аналитические возможности.
GEMINI -это легендарная технология электронно-оптической колонны.
Она гарантирует:
- получение изображений во вторичных и/или в обратно рассеянных электронах со сверхвысокими разрешениями;
- выдающуюся стабильность тока пучка - 0,2 в час при токах до 20 нА;
- непревзойденные по качеству изображения;
- работу с высоким разрешением даже при ускоряющем напряжении в 100В;
- проведение прецизионных измерений частиц и включений во всем диапазоне увеличений;
- проведение экспериментов на ультрамалых рабочих расстояниях (WD) вплоть до 1 мм;
- уникальные дополнительные аналитические возможности при изучении образцов в режимах просвечивания и/или в комбинации с микроаналитическими приставками.
При этом GEMINI гарантирует выдающееся качество изображений - потрясающий контраст и несравнимую чистоту.
В микроскопах ULTRA используются три интегрированные системы детектирования сигнала:
Встроенный в линзовую систему детектор вторичных электронов (In-lens SE) для изучения топографии поверхности на предельных разрешениях;
Встроенный в колонну детектор обратно рассеянных электронов с селекцией по энергии выхода (EsB), дающий картины поверхности с отображением химического контраста на сверхразрешениях;
Встроенный в колонну детектор обратно рассеянных электронов с селекцией по углу выхода (AsB), используемый для изучения композиционного контраста и получения картин ориентации кристаллов.
С помощью микроскопов серии ULTRA получают уникальные по разрешению и выдающиеся по качеству изображения: топологии поверхности, композиционного контраста поверхности, карты разориентации кристаллов и карты ориентации магнитных доменов.
Рабочие камеры микроскопов серии ULTRA оборудованы оптимальным количеством портов для подключения дополнительного аналитического оборудования и высокоточным столиком с полной моторизацией по 5 осям, что в комбинации с электронно-оптической колонной GEMINI открывает перед исследователями широчайшие аналитические возможности.
GEMINI -это легендарная технология электронно-оптической колонны.
Она гарантирует:
- получение изображений во вторичных и/или в обратно рассеянных электронах со сверхвысокими разрешениями;
- выдающуюся стабильность тока пучка - 0,2 в час при токах до 20 нА;
- непревзойденные по качеству изображения;
- работу с высоким разрешением даже при ускоряющем напряжении в 100В;
- проведение прецизионных измерений частиц и включений во всем диапазоне увеличений;
- проведение экспериментов на ультрамалых рабочих расстояниях (WD) вплоть до 1 мм;
- уникальные дополнительные аналитические возможности при изучении образцов в режимах просвечивания и/или в комбинации с микроаналитическими приставками.
Товары, похожие на Аналитический автоэмиссионный растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур
Обращаем ваше внимание на то, что торговая площадка BizOrg.su носит исключительно информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой.
Заявленная компанией OPTEC (Оптэк), ТОО цена товара «Аналитический автоэмиссионный растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании OPTEC (Оптэк), ТОО по указанным телефону или адресу электронной почты.
Заявленная компанией OPTEC (Оптэк), ТОО цена товара «Аналитический автоэмиссионный растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании OPTEC (Оптэк), ТОО по указанным телефону или адресу электронной почты.