Сканирующие микроскопы высокого разрешения с полевой эмиссией JSM-6701F, JSM-7500F, Усть-Каменогорск
Цена: Цену уточняйте
за 1 ед.
Компания Квантум груп (Quantum Group), ТОО (Усть-Каменогорск) является зарегистрированным поставщиком на сайте BizOrg.su. Вы можете приобрести товар Сканирующие микроскопы высокого разрешения с полевой эмиссией JSM-6701F, JSM-7500F, расчеты производятся в ₽. Если у вас возникли проблемы при заказе товара, пожалуйста, сообщите об этом нам через форму обратной связи.
Описание товара
Модель JSM-6701F JSM-7500F/
JSM-7500FA
Разрешение 1 нм (15 кВ)
2,2 нм (1 кВ) 1 нм (15 кВ)
1,4 нм (1 кВ)
Ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ от 0,1 до 30 кВ
Увеличение от х25
до х650 000 от х25
до х1 000 000
Ток луча от 10-13 А
до 2х10-9 А от 10-13 А
до 2х10-9 А
Примечания:
JSM-7500F оснащён r-фильтром (r-filter) - электростатическим зеркалом, встроенным в объективную линзу для разделения и фильтрации по энергии вторичных и упруго-отражённых электронов.
Также на микроскопе JSM-7500F может быть реализован режим низковольтной растровой электронной микроскопии (Gentle Beam) за счёт приложения к образцу тормозящего отрицательного потенциала. Метод позволяет снижать энергию первичных электронов до 100 эВ.
Все модели могут быть оснащены энергодисперсионным спектрометром для микроанализа
Модель JSM-7500F могут быть укомплектованы системой текстурного анализа поликристаллических образцов по методу EBSD.
JSM-7500FA - аналитическая модель. В базовую комплектацию включён ЭД спектрометр JED-2300
JSM-7500FA
Разрешение 1 нм (15 кВ)
2,2 нм (1 кВ) 1 нм (15 кВ)
1,4 нм (1 кВ)
Ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ от 0,1 до 30 кВ
Увеличение от х25
до х650 000 от х25
до х1 000 000
Ток луча от 10-13 А
до 2х10-9 А от 10-13 А
до 2х10-9 А
Примечания:
JSM-7500F оснащён r-фильтром (r-filter) - электростатическим зеркалом, встроенным в объективную линзу для разделения и фильтрации по энергии вторичных и упруго-отражённых электронов.
Также на микроскопе JSM-7500F может быть реализован режим низковольтной растровой электронной микроскопии (Gentle Beam) за счёт приложения к образцу тормозящего отрицательного потенциала. Метод позволяет снижать энергию первичных электронов до 100 эВ.
Все модели могут быть оснащены энергодисперсионным спектрометром для микроанализа
Модель JSM-7500F могут быть укомплектованы системой текстурного анализа поликристаллических образцов по методу EBSD.
JSM-7500FA - аналитическая модель. В базовую комплектацию включён ЭД спектрометр JED-2300
Товары, похожие на Сканирующие микроскопы высокого разрешения с полевой эмиссией JSM-6701F, JSM-7500F
Обращаем ваше внимание на то, что торговая площадка BizOrg.su носит исключительно информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой.
Заявленная компанией Квантум груп (Quantum Group), ТОО цена товара «Сканирующие микроскопы высокого разрешения с полевой эмиссией JSM-6701F, JSM-7500F» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании Квантум груп (Quantum Group), ТОО по указанным телефону или адресу электронной почты.
Заявленная компанией Квантум груп (Quantum Group), ТОО цена товара «Сканирующие микроскопы высокого разрешения с полевой эмиссией JSM-6701F, JSM-7500F» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании Квантум груп (Quantum Group), ТОО по указанным телефону или адресу электронной почты.